Artwork-X

产品描述及功能简介

管控及分析底片流程的工具

影响大panel上良率的一个基本的原因就是底片的管控与使用以及与之相联系的绘片流程.

作为完整的对准度解决方案--Gemini X--的补充， XACT特地开发了针对底片使用流程和绘片流程的Artwork X.

可通过任何的光学坐标量测机台（如OPTEK VideoMic）实现快速的底片量测

线性和非线性的底片变形
流程管控& SPC
不同批次之间的变异 / 趋势分析

温湿度数据可通过软件自动地记录--将底片变形分析与周围环境联系起来

底片通常是PCB制程中对准度异常的一个基本原因。通过Artwork-X可以量测、管控底片，显著地提升制程能力及良率

Artwork-X可生成所有关键量测数据，如时间、温度、绘片机、批次等的图表.无论部门经理还是操作员都可通过图表轻松地把握整个底片制程信息